——TMS透过率检测系统可观测物品变化过程

 

我司研发部使用TMS透过率检测系统分析光、电、磁变色材料光谱特性，通过采集被测样品的透过/反射率变化谱图，进而分析样品透过率和吸光度随时间的变化过程。TMS透过率检测系统可以迅速采集和观察到物品的整个变化过程，可记录全谱的变化趋势且单次扫描时间最快可达3毫秒。这一方案将有助于光、电、磁致变色材料光谱特性的研究，为物质光谱特性研究提供更多可能性，譬如将可以进一步研究荧光的寿命问题。下图为532nm下透过率光谱曲线（约采集样品3000个）：