Sphere3000是一套全波长显微球面光学元件光谱分析仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/绝对反射率。适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量。还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。

Sphere3000球面光学元件反射率显微测试仪-特点：

Ø         显微测定微小领域的反射率  物镜对焦于被测物微小区域（φ60μm）

Ø         CIE颜色测定  X Y色度图，x, y, L, a, b, 饱和度，主波长等

Ø         检测速度快  高性能探测器，能在几秒内实现重现性高的测定

Ø         消除背面反射光 无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率

Sphere3000球面光学元件反射率显微测试仪-技术参数

型号	Sphere-3000（I型）	Sphere-3000（II型）	Sphere-3000（III型）
检测范围	380~800nm	380~1000nm	380~1100nm
波长分辨率	1nm	1nm	1nm
相对检测误差	﹤1%	﹤1%	﹤0.5%
测定方法	与标准物比较测定
被测物再现性	±0.1%以下 (2σ)（380nm~410nm）  ±0.05%以下 (2σ)(410nm~800nm)	±0.1%以下 (2σ)（380nm~410nm） ±0.05%以下 (2σ)(410nm~1000nm)	±0.1%以下 (2σ)（380nm~410nm） ±0.05%以下 (2σ)(410nm~1100nm)
单次测量时间	﹤1s
精度	0.3nm
被测物N.A.	0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时)
被测物尺寸	直径>1mm 厚度>1mm(使用10×对物镜时) 厚度>0.5mm(使用20×对物镜时)
被测物 测定范围	约φ60μm(使用10×对物镜时)      约φ30μm(使用20×对物镜时)
设备重量	约15kg（光源内置）
设备尺寸	300(W)×550(D)×570(H)mm
使用环境	水平且无振动的场所 温度：23±5℃；湿度：60％以下、无结露，
操作系统	Windows XP, Windows Vista，Win7
软件	分光反射率、物体颜色、单层膜厚（有干涉条纹）和镀膜折射率（有干涉条纹）测定