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ADMS角分辨光谱分析仪
ADMS ⻆分辨光谱分析仪是⼀款可变⻆度的透反射测量光谱分析仪，可快速实现透射/透散射/漫反射/辐射/软件编译⾃由⻆度等多种光谱测量模式。适⽤于光⼦晶体/超导材料/超晶格/漫反射等纳⽶光学材料的能带、缺陷等特性研究。在薄膜材料/玻璃/光学元器件等⾏业均可采⽤ADMS⻆分辨光谱分析仪实现光学元器件特定⻆度下透过/透散射/漫反射的过程控制测量，可输出BRDF\BTDF分布函数。
仪器特点
1. 全角度测量；
2. 超宽光谱范围光谱测量分析；
3. 多测量模式；
4. ⾼精度智能电机调节；
5. ⾃由编译测量，⾃动旋转批量测量；
6. 样品x、y、z、俯仰、倾斜多维精细调节；
7. 扩展性好：仪器可新增外部激光接口，可装载光学元件，丰富测量内容。
应用领域
技术参数
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