Planum-3000 光学元件光谱分析仪
Planum-3000光学元件光谱分析仪⽤于快速测量各类平⾯光学元件的反射、透射光谱,可进⾏多⻆度绝对反射率、相对反射率、透射率测量,偏振光(S、P、(S+P)/2 )测量,颜⾊测量等。
仪器特点
1. 可快速测量任意⻆度绝对反射率、透过率;2. 样品检测范围⼴,实时导出样品数据及CIE颜⾊值;3. 光学⽆损检测,检测速度极快,毫秒级。
测量对象
技术参数